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XP-703DIII测漏检测(半导体用)[产品打印页面]

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: XP-703DIII测漏检测(半导体用)
产品型号:
产品展商: 日本新宇宙
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关注指数:151
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简单介绍
XP-703DIII测漏检测(半导体用)是一款泵吸式氢气泄漏检测仪。XP-703DIII测漏检测(半导体用)可测试H2、AsH3、B2H6、SiH4、PH3气体的泄漏。

XP-703DIII测漏检测(半导体用)的详细介绍

河北快3 XP-703DIII测漏检测(半导体用)参数:

型号

XP-703DⅢ

检测对象气体

H2、AsH3、B2H6、SiH4、PH3

检测原理

专线型半导体式

采集方式

自动吸引式

可检测泄漏量

H2 :5.07×10-7、AsH3 :2.53×10-7、B2H6、1.01×10-7SiH4、2.53×10-7 、PH3:1.52×10-7

可检测浓度

H2 :5.07×10-7、AsH3 :2.53×10-7、B2H6、1.01×10-7SiH4、2.53×10-7 、PH3:1.52×10-7

反应时间

10秒以内

显示方式

液晶数字(手动背景灯)

电源(额定)

5号碱性干电池(LR6)  2节

电池使用时间※1

约12小时(5号碱性干电池、25℃时)

保护等级※2

相当于IP22※3

使用压力范围

大气压(800~1100kpa)

使用温湿度范围

0~40℃/85%RH以下(但不能结露)

外形尺寸

W38×H130×D32㎜(突出部分除外)

重量

约190g(包括电池、皮套)


CEM
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珠海天创仪器有限公司
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